高低溫沖擊熱流儀北京上海廣州深圳

一、產(chǎn)品介紹：
該系列設(shè)備通過熱流罩或測(cè)試腔將電子元件，集成電路IC，PCB電路板與周邊環(huán)境隔離，然后對(duì)其循環(huán)噴射冷熱氣流，使其溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化，從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。
二、性能特點(diǎn)：
與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱、快溫變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、溫濕度試驗(yàn)箱對(duì)比,高低溫沖擊熱流儀具有以下特點(diǎn)：
1) 變溫速率更快；
2) 溫控精度：±1℃；
3) 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度；
4) 針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊)，可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件；
5) 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)負(fù)載板上的IC芯片進(jìn)行溫度循環(huán)/沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試；
6) 對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
 
三、技術(shù)指標(biāo)