一、設(shè)備用途：

HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測試。

二、設(shè)備特點(diǎn)：
1) 采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，上降低了使用故障率。
2) 獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3) 門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4) 試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5) 超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).
6) 水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7) tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8) 二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.
9) 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10) 偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）
11) USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

三、主要技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備型號： HE-HAST-40

圓形內(nèi)箱尺寸： 直徑Φ400×深500（mm）

溫度范圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )

溫度波動度： ±0.5℃

溫度顯示精度： 0.1℃

濕度范圍： 70~100% 蒸氣濕度

濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH

使用壓力： 1.2~2.89kg(含1atm)

壓力波動均勻度： ±0.1Kg

時(shí)間范圍： 0 Hr～999Hr

加壓時(shí)間： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm²  約 45 分

控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制

內(nèi)桶材質(zhì)： SUS316#不銹鋼板

外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板高溫烤漆處理

使用電源： 單相 220V  20A  50/60Hz

安全保護(hù)： 超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，缺水保護(hù)等

水質(zhì)要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）